氧化鋅避雷器閥片的檢驗辦法

雜散電容的存在使氧化鋅避雷器(MOA)中閥片電壓散布不均勻，一般靠近高壓端的閥片承當電壓較高，導致這部分閥片老化加速，終究整臺氧化鋅避雷器損壞，縮短了氧化鋅避雷器的使用壽命。所以，電位散布的核算和測試以及采取有效均壓措施，對氧化鋅避雷器規(guī)劃和運轉(zhuǎn)都具有重要意義。

但是，精確檢驗氧化鋅避雷器中閥片的電位散布很難。因為閥片制造工藝的不同，分散性很大，并且檢驗探頭的體積也會影響閥片周圍的電場散布然后影響檢驗結(jié)果。

這些都給檢驗體系的規(guī)劃和制造帶來了很大困難。

目前常用的檢驗辦法是光纖一電流法，該辦法需不斷更換探頭方位，檢驗一組數(shù)據(jù)時刻較長且需求很多的人力。

因而，需求研發(fā)一種新型的檢驗體系以滿意避雷器規(guī)劃和運轉(zhuǎn)單位的需求。

1檢驗體系的研發(fā)

1.1檢驗體系的規(guī)劃原理

本檢驗體系用于避雷器出廠前的檢測實驗。因剛拼裝的氧化鋅避雷器閥片組的阻抗近似持平，故設(shè)閥片阻抗持平并經(jīng)過檢驗流過閥片的電流得到其電位散布。因為研究和檢驗的是避雷器閥片在繼續(xù)運轉(zhuǎn)電壓下的電位散布，而此條件下的電壓散布首要由容性電流重量決議。長時問運轉(zhuǎn)后氧化鋅避雷器避雷器閥片阻抗的電阻重量會增加，而電容重量只和空間幾何方位有關(guān)，和運轉(zhuǎn)時刻無關(guān)，對檢驗結(jié)果影響小，因而該體系也適用于運轉(zhuǎn)一段時刻后避雷器的檢測實驗。

1.2檢驗體系的結(jié)構(gòu)

氧化鋅閥片的電位散布與避雷器的結(jié)構(gòu)參數(shù)及幾何方位密切相關(guān)，其間首要影響要素為周圍導體和閥片間的雜散電容，特別是對地雜散電容。

研發(fā)的檢驗體系由電流傳感器、光纖、信號處理單元和核算機組成，為減小人為誤差，需一次性測出整臺避雷器的電流散布，且一切電流傳感器有必要安裝在氧化鋅避雷器的不同方位。

為滿意以上要求，本體系的電流傳感器選用無源的辦法，用流過每片閥片中電流的能量驅(qū)動一個微功耗發(fā)光器件并經(jīng)光纖將脈沖信號傳遞給接收器，顯示出脈沖頻率或個數(shù)。

因為流過電流傳感器的電流j。正比于傳感器球殼上的電壓Ui，而脈沖頻率廠或許個數(shù)又是的函數(shù)，所以-廠和也是ji的函數(shù)，流過閥片的電流可以用光脈沖的頻率廠或脈沖個數(shù)來標定。本體系由20個電流傳感器組成，可根據(jù)需求選擇串人的個數(shù)。

2應用實例

2.1實驗說明

試品電站用氧化鋅避雷器，實驗前先標定傳感器，傳感器在閥片中均勻安裝，每個氧化鋅避雷器單元的閥片中均勻串人5路傳感器，編號為0～19的傳感器依次串聯(lián)到避雷器由下到上的單元中。

阻隔實驗避雷器和周圍的電器設(shè)備，避免后者攪擾實驗結(jié)果。

2.2實驗結(jié)果

實驗得到該氧化鋅避雷器避雷器各單元并聯(lián)規(guī)劃電容時的電位散布?？梢姴⒙?lián)規(guī)劃電容器時電位散布很不均勻。在氧化鋅避雷器避雷器最下端的單元離地高度最小，雜散影響也最小，電位散布較均勻(0～4的傳感器)。

在高壓端因為并聯(lián)電容器和均壓環(huán)一起效果電位散布也較均勻(15～19的傳感器)。

而氧化鋅避雷器中心2個單元因為法蘭的效果和并聯(lián)電容器取值不當，對地雜散電容對這2個單元閥片的電位影響很大，檢驗結(jié)果顯著驟變，依照實際傳感器安裝及串人閥片電位散布，比較可見檢驗和核算結(jié)果比較共同。

證明了該檢驗體系的準確性和實用性。調(diào)整電容器后所測氧化鋅避雷器類型各單元電位散布，可見其較為均勻。

因而，主張氧化鋅避雷器規(guī)劃單位應在規(guī)劃核算基礎(chǔ)上對產(chǎn)品進行實驗，得到抱負的并聯(lián)電容值再作調(diào)整，確保正常運轉(zhuǎn)時電位散布較均勻。

3.結(jié)論

a)該體系傳感器無源，尺度小，對檢驗影響小。散布，還可用于電容分壓器、電阻均壓器、高壓閥體等的電位檢驗，誤差<±2。

b)信號處理光纖傳輸不受周圍電磁場攪擾。

c)該體系包括的20路電流傳感器可一起檢驗，一次性得到檢驗結(jié)果，節(jié)省了很多的時刻和人力。